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什么是邊界掃描測試系統(tǒng)?

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什么是邊界掃描測試系統(tǒng)?

發(fā)布日期:2016-07-27 作者: 點擊:

邊界掃描測試系統(tǒng)邊界掃描(Boundary scan )是一項測試技術(shù),是在傳統(tǒng)的在線測試不在適應(yīng)大規(guī)模,高集成電路測試的情況下而提出的,就是在IC設(shè)計的過程中在IC的內(nèi)部邏輯和每個器件引腳間放置移位寄存器(shift register).每個移位寄存器叫做一個CELL。這些CELL準(zhǔn)許你去控制和觀察每個輸入/輸出引腳的狀態(tài)。當(dāng)這些CELL連在一起就形成了一個數(shù)據(jù)寄存器鏈(data register chain),我門叫它邊界寄存器(boundaryregister)。除了上面的移位寄存器外,在IC上還集成測試訪問端口控制器 (TAP controller),指令寄存器(Instruction register)對邊界掃描的指令進(jìn)行解碼以便執(zhí)行各種測試功能。旁路寄存器(bypass register)提供一個最短的測試通路。另外可能還會有IDCODE register和其它符合標(biāo)準(zhǔn)的用戶特殊寄存器。
邊界掃描器件典型特征及邊界掃描測試信號的構(gòu)成。
如果一個器件是邊界掃描器件它一定有下面5個信號中的前四個:

1.TDI  (測試數(shù)據(jù)輸入)        2.TDO (側(cè)試數(shù)據(jù)輸出)        3.TMS (測試模式選擇輸入)        4.TCK (測試時鐘輸入)

5.TRST (測試復(fù)位輸入,這個信號是可選的)

TMS,TCK,TRST構(gòu)成了邊界掃描測試端口控制器(TAP controller),它負(fù)責(zé)測試信號指令的輸入,輸出,指令解碼等,TAP controller是一個16位的狀態(tài)機(jī),邊界掃描測試的每個環(huán)節(jié)都由它來控制,所以要對TAP controller有一個比較清楚的了解。
在后續(xù)的文章中還會向大家介紹邊界掃描的其它方面。
邊界掃描為開發(fā)人員縮短開發(fā)周期,并且提供良好的覆蓋率和診斷信息。在不了解
IC內(nèi)部邏輯的情況下快速的開發(fā)出優(yōu)秀的測試程序。在未來的測試領(lǐng)域,邊界掃描將會得到廣泛的應(yīng)用。
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邊界掃描測試發(fā)展于上個世紀(jì)90年代,隨著大規(guī)模集成電路的出現(xiàn),印制電路板制造工藝向小,微,薄發(fā)展,傳統(tǒng)的ICT 測試已經(jīng)沒有辦法滿足這類產(chǎn)品的測試要求。由于芯片的引腳多,元器件體積小,板的密度特別大,根本沒有辦法進(jìn)行下探針測試。一種新的測試技術(shù)產(chǎn)生了,聯(lián)合測試行為組織(Joint Test Action Group)簡稱JTAG 定義這種新的測試方法即邊界掃描測試。

被國際電工委員會收錄為IEEE1149.1-1990 邊界掃描測試測試訪問端口和邊界掃描結(jié)構(gòu)標(biāo)準(zhǔn)。該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了進(jìn)行邊界掃描測試所需要的硬件和軟件。自從1990 年批準(zhǔn)后,IEEE 分別于1993 年和1995 年對該標(biāo)準(zhǔn)作了補(bǔ)充,形成了現(xiàn)在使用的IEEE1149.1a-1993 和IEEE1149.1b-1994。JTAG 主要應(yīng)用于:電路的邊界掃描測試和可編程芯片的在線系統(tǒng)編程。

1990年JTAG正式由IEEE的1149.1-1990號文檔標(biāo)準(zhǔn)化,在1994年,加入了補(bǔ)充文檔對邊界掃描描述語言(BSDL)進(jìn)行了說明。從那時開始,這個標(biāo)準(zhǔn)被全球的電子企業(yè)廣泛采用。邊界掃描幾乎成為了JTAG的同義詞。

  在設(shè)計印刷電路版時, 目前最主要用在測試集成電路的副區(qū)塊,而且也提供一個在嵌入式系統(tǒng)很有用的除錯機(jī)制,提供一個在系統(tǒng)中方便的"后門"。當(dāng)使用一些除錯工具像電路內(nèi)模擬器用JTAG當(dāng)做訊號傳輸?shù)臋C(jī)制,使得程式設(shè)計師可以經(jīng)由JTAG去讀取整合在CPU上的除錯模組。除錯模組可以讓程式設(shè)計師除錯嵌入式系統(tǒng)中的軟件 。

  邊掃描測試是在20世紀(jì)80年代中期做為解決PCB物理訪問問題的JTAG接口發(fā)展起來的,這樣的問題是新的封裝技術(shù)導(dǎo)致電路板裝配日益擁擠所產(chǎn)生的。邊界掃描在芯片級層次上嵌入測試電路,以形成全面的電路板級測試協(xié)議。利用邊界掃描--自1990年以來的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)IEEE 1149.1--您甚至能夠?qū)ψ顝?fù)雜的裝配進(jìn)行測試、調(diào)試和在系統(tǒng)設(shè)備編程,并且診斷出硬件問題。

通過提供對掃描鏈的IO的訪問,可以消除或極大地減少對電路板上物理測試點的需要,這就會顯著節(jié)約成本,因為電路板布局更簡單、測試夾具更廉價、電路中的測試系統(tǒng)耗時更少、標(biāo)準(zhǔn)接口的使用增加、上市時間更快。除了可以進(jìn)行電路板測試之外,邊界掃描允許在PCB貼片之后,在電路板上對幾乎所有類型的CPLD和閃存進(jìn)行編程,無論尺寸或封裝類型如何。在系統(tǒng)編程可通過降低設(shè)備處理、簡化庫存管理和在電路板生產(chǎn)線上集成編程步驟來節(jié)約成本并提高產(chǎn)量。

IEEE 1149.1 標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了一個四線串行接口(第五條線是可選的),該接口稱作測試訪問端口(TAP),用于訪問復(fù)雜的集成電路(IC),例如微處理器、DSP、ASIC和CPLD。除了TAP之外,混合IC也包含移位寄存器和狀態(tài)機(jī),以執(zhí)行邊界掃描功能。在TDI(測試數(shù)據(jù)輸入)引線上輸入到芯片中的數(shù)據(jù)存儲在指令寄存器中或一個數(shù)據(jù)寄存器中。串行數(shù)據(jù)從TDO(測試數(shù)據(jù)輸出)引線上離開芯片。邊界掃描邏輯由TCK(測試時鐘)上的信號計時,而且TMS(測試模式選擇)信號驅(qū)動TAP控制器的狀態(tài)。TRST(測試重置)是可選項。在PCB上可串行互連多個可兼容掃描功能的IC,形成一個或多個掃描鏈,每一個鏈都由其自己的TAP。每一個掃描鏈提供電氣訪問,從串行TAP接口到作為鏈的一部分的每一個IC上的每一個引線。在正常的操作過程中,IC執(zhí)行其預(yù)定功能,就好像邊界掃描電路不存在。但是,當(dāng)為了進(jìn)行測試或在系統(tǒng)編程而激活設(shè)備的掃描邏輯時,數(shù)據(jù)可以傳送到IC中,并且使用串行接口從IC中讀取出來。這樣數(shù)據(jù)可以用來激活設(shè)備核心,將信號從設(shè)備引線發(fā)送到PCB上,讀出PCB的輸入引線并讀出設(shè)備輸出。


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